Аноним

Технологическое отображение последовательной схемы: различия между версиями

Материал из WEGA
Строка 96: Строка 96:


'''Этап разметки'''
'''Этап разметки'''
После получения всех K-разрезов алгоритм оценивает разрезы, основываясь на последовательном времени прихода (или l-значениях), представляющем собой расширение традиционного времени прихода, чтобы рассчитать эффект от ресинхронизации [6,8].
FindMinLabels(N)
foreach node v in N do l(v) <^ w w,-ф
while (имеются обновления меток) do
foreach node v in N do
l(v) ( minc2C(v)fmaxfl(u) – d ф + 1jud ec}}
if v является PO и l(v) > ф, return неуспешно
return успешно
Рисунок 5. Технологическое отображение последовательной схемы. Процедура разметки
0 \{а°} :0 fb0g : 0 {Р} :0 {х0} : -1 {У0}: О {z° } :- 1 fo0g :-1
1 \ {а0} : 1 z1g:0 0 (  0  0
< Q        Q z0g : 1 {о1 б1! :0 fz0g :0
Рисунок 6. Технологическое отображение последовательной схемы. Пример разметки
Процедура разметки стремится найти метку для каждой вершины, как схематически показано на рис. 5, где wv обозначает вес кратчайших пар из первичных входов к вершине v.
На рис. 6 изображены итерации вычисления меток для схемы на рис. 1 (1) в предположении, что целевая продолжительность цикла ф = 1 и вершины оцениваются в порядке i, x, y, z, o. В таблице отражены как текущая метка, так и соответствующий разрез для каждой вершины. В данном примере после первой итерации ни одна из меток не меняется, и выполнение процедуры завершается.
Можно показать, что процедура разметки остановится после не более чем n(n - 1) итераций [ ]. Следующая лемма связывает метки и отображение:
Лемма 2. N имеет отображение с продолжительностью цикла ' в том и только том случае, если процедура разметки возвращает значение «успех».
'''Этап отображения'''
После того успешного вычисления меток для всех вершин можно построить отображение, начиная с первичных выходов. В каждой вершине v процедура выбирает разрез, реализующий метку вершины, а затем переходит к выбору разреза для u, если ud входит в состав разреза, выбранного для v. На ребре, идущем из таблицы LUT для u к LUT для v, добавляется d триггеров. Для схемы на рис. 1 (1) сгенерированное отображение, основанное на метках, найденных на рис. 6, представляет собой сеть на рис. 2 (2).
Для получения отображения с целевой продолжительностью цикла ' таблица LUT для v может быть ресинхронизирована на \l{v)l<p~\ — 1. Для схемы на рис. 1 (1) окончательное отображение после ресинхронизации представлено на рис. 2 (3).
== Применение ==
Данный алгоритм может применяться для отображения технологически независимой булевой сети на сеть, состоящую из ячеек из библиотеки логических элементов целевой технологии. Концепция и структура являются достаточно общими для того, чтобы их можно было адаптировать для изучения других оптимизаций схем, таких как кластеризация и реструктуризация последовательных схем.
== См. также ==
* [[Ресинхронизация схемы]]
* [[Технологическое отображение ППВМ]]
* [[Технологическое отображение]]
== Литература ==
1. Cong, J., Ding, Y.: FlowMap: An Optimal Technology Mapping Algorithm for Delay Optimization in Lookup-Table Based FPGA Designs. IEEE Trans. on Comput. Aided Des. of Integr. Circuits and Syst., 13(1), 1-12(1994)
2. Cong, J., Wu, C.: FPGA Synthesis with Retiming and Pipelining for Clock Period Minimization of Sequential Circuits. ACM/IEEE Design Automation Conference (1997)
3. Keutzer, K.: DAGON: Technology Binding and Local Optimization by DAG Matching. ACM/IEEE Design Automation Conference (1987)
4. Leiserson, C.E., Saxe, J.B.: Retiming Synchronous Circuitry. Algorithmica6,5-35(1991)
5. Mishchenko, A., Chatterjee, S., Brayton, R., Ciesielski, M.: An integrated technology mapping environment. International Workshop on Logic Synthesis (2005)
6. Pan, P.: Continuous Retiming: Algorithms and Applications. IEEE International Conference on Computer Design, pp. 116-121. (1997)
7. Pan, P., Lin, C.C.: A New Retiming-based Technology Mapping Algorithm for LUT-based FPGAs. ACM International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays (1998)
8. Pan, P., Liu, C.L.: Optimal Clock Period FPGA Technology Mapping for Sequential Circuits. ACM/IEEE Design Automation Conference, June (1996)
9. Pan, P., Liu, C.L.: Optimal Clock Period FPGA Technology Mapping for Sequential Circuits. ACM Trans. on Des. Autom. of Electron. Syst., 3(3), 437-462 (1998)
4430

правок